Die Konferenz befasste sich mit einigen der Herausforderungen, vor denen Unternehmen heute stehen, wenn es darum geht, die Vorteile der Einf\u00fchrung intelligenter Messtechnologien zu bewerten. Themen wie vorausschauende Wartung oder Interoperabilit\u00e4t waren f\u00fcr Unternehmen, die den Sprung in eine digital optimierte Produktion schaffen, von entscheidender Bedeutung. Die Veranstaltung bot die M\u00f6glichkeit, Technologie, L\u00f6sungen und Anwendungen in einem industriellen Umfeld zu verbinden und zu entdecken.
\nToni Ventura<\/strong>, CEO von Datapixel, er\u00f6ffnete die Konferenz mit einem charismatischen Tutorial, in dem er den Weg zur Herstellung von Null-Defekten dank Metrologie verblendete und seine Rede mit einer Reflexion beendete: \u201eVor Jahren war Die Metrologie nur in Laboratorien pr\u00e4sent, aber heute es ist ein wesentlicher Prozess in der Produktion, es ist ein weiterer Teil des Prozesses in ihm enthalten \u201c
\nDie 16. Edition von Metromeet wurde auch durch neue Inhalte hervorgehoben, die viel Interesse und Erwartung stritten.\u00a0Jennifer Herron<\/strong>, eine Mitarbeiterin von NIST, brachte aus Colorado (USA) eine gro\u00dfartige Pr\u00e4sentation \u00fcber QIF-Fertigungsstandards.\u00a0Ainhoa Etxabarri<\/strong>\u00a0hat den zweiten Tag von Metromeet \u201eMetrology in Machining\u201c ein Papier vorgestellt, in dem neben der Pr\u00e4sentation M3MH, eine einzigartige Messsoftware, die direkte Verbindung zur CNC erm\u00f6glicht, pr\u00e4sentierte es eine neue Art der Messung, Herstellung und Optimierung industriellen Prozessen.
\nNachdem sie so attraktive Themen wie Hybridmessung, QIF, Softwarel\u00f6sungen f\u00fcr den 3D-Druck und Industrie 4.0 auf den Tisch gebracht haben, befasste sich der Runde Tisch von Jesus de la Maza, Toni Ventura und Jennifer Herron, der die Konferenz abschloss, mit wichtigen Themen Bedeutung bei der Entwicklung der Industrie wie Fertigungsstandards, Interoperabilit\u00e4t und Datenmanagement in der Fabrik der Zukunft.
\nDer letzte Tag der Konferenz fand in der Bodegas Valdemar statt, wo die Teilnehmer dank Referenten wie Rafael Garcia, Anwendungsingenieur bei\u00a0MSI<\/strong>, der am R4-Clio-Projekt teilnahm, Camilo Prieto von\u00a0AIMEN<\/strong>, innovative Inhalte genossen haben.
\nMetromeet hat es mit diesen Tagen der Konferenz geschafft, Schlussfolgerungen \u00fcber die wichtigsten Bed\u00fcrfnisse des Sektors zu ziehen und mit Fachleuten mit unterschiedlichen Wahrnehmungen und Erfahrungen \u00fcber die Zukunft der Messtechnik zu diskutieren. Durch Metromeet zeigt Innovalia weiterhin sein Engagement f\u00fcr die technologische Entwicklung und seine klare Position als Verschreibender fortschrittlicher L\u00f6sungen im Bereich der Qualit\u00e4tskontrolle und der Verbesserung von Fertigungsprozessen.<\/p>\n
![\"\"](\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2020\/03\/ESQgx_AWAAA0bhy-1.jpg\")
<\/p>\n![\"\"](\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2020\/03\/ESV1HgwXYAA3GoK.jpg\")
<\/p>\n![\"\"](\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2020\/03\/ESXGJCvWsAQ_DWq.jpg\")
<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"