{"id":632630,"date":"2017-08-28T11:57:56","date_gmt":"2017-08-28T09:57:56","guid":{"rendered":"https:\/\/innovalia-metrology.cbtpruebas.es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-cambiar-mucho-mas-entrevista-toni-ventura-director-de-datapixel\/"},"modified":"2023-03-07T14:44:15","modified_gmt":"2023-03-07T13:44:15","slug":"la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/","title":{"rendered":"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel"},"content":{"rendered":"<p>Toni Ventura es ingeniero superior de telecomunicaciones, especialidad en electr\u00f3nica. Es fundador y director general de Datapixel en Espa\u00f1a. Adem\u00e1s, es miembro del Comit\u00e9 Ejecutivo de la\u00a0<em>European Machine Vision Association<\/em>\u00a0(EMVA), as\u00ed como de varios comit\u00e9s internacionales de est\u00e1ndares, incluyendo el comit\u00e9 OSIS (<em>Optical Sensor Interface Standard<\/em>) de la ia.cmm.<\/p>\n<p><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"aligncenter size-full wp-image-8013\" src=\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni.jpg\" alt=\"\" width=\"832\" height=\"598\" srcset=\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni.jpg 832w, https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni-300x216.jpg 300w, https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni-768x552.jpg 768w, https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni-636x457.jpg 636w, https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni-320x230.jpg 320w, https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/toni-239x172.jpg 239w\" sizes=\"(max-width: 832px) 100vw, 832px\" \/><\/p>\n<p><strong>\u00bfQu\u00e9 es Datapixel y a qu\u00e9 se dedica?<\/strong><\/p>\n<p>DataPixel es fabricante de los sistemas de inspecci\u00f3n dimensional sin contacto OptiScan y desarollador de tecnolog\u00eda de visi\u00f3n 3D de muy alta precisi\u00f3n. Adem\u00e1s, Datapixel es padre de M3Software, un software de metrolog\u00eda digital que est\u00e1 revolucionando los procesos de medici\u00f3n.<\/p>\n<p>Datapixel lleva 18 a\u00f1os dise\u00f1ando, fabricando y comercializando OptiScan 3D y soluciones para el control de calidad en la fabricaci\u00f3n de componentes de automoci\u00f3n y aeron\u00e1utica. Los esc\u00e1neres \u00f3pticos de DataPixel permiten capturar y controlar las dimensiones y formas 3D de piezas diversas, como componentes de estampaci\u00f3n met\u00e1lica que forman parte de la carrocer\u00eda, piezas de fibra de carbono de fuselaje o alas de aeronaves, piezas mecanizadas de motores, \u00e1labes de turbinas de motores o piezas t\u00e9cnicas de pl\u00e1stico.<\/p>\n<p>Los esc\u00e1neres de DataPixel tienen acogida a nivel internacional y permiten a las empresas manufactureras realizar inspecciones dimensionales con precisiones de micr\u00f3metros. Datapixel fabrica adem\u00e1s sensores \u00f3pticos que permiten la medici\u00f3n de peque\u00f1as piezas con precisiones de nan\u00f3metros para los sistemas de m\u00e1s precisi\u00f3n.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>\u00bfDesde cu\u00e1ndo forman parte del Grupo Innovalia? \u00bfQu\u00e9 supone para Datapixel formar parte de ese grupo?<\/strong><\/p>\n<p>Datapixel naci\u00f3 dentro del Grupo Innovalia y formar parte del grupo proporciona a Datapixel una gran capacidad tecnol\u00f3gica, de internacionalizaci\u00f3n y de innovaci\u00f3n.<\/p>\n<p>Datapixel acomete proyectos de una dimensi\u00f3n mucho mayor en complejidad tecnol\u00f3gica, a trav\u00e9s de la estrecha colaboraci\u00f3n con las otras empresas del grupo, aprovechando sinergias entre las mismas. La pertenencia al Grupo Innovalia permite a DataPixel alcanzar un nivel de internacionalizaci\u00f3n muy superior, compartiendo recursos de comercializaci\u00f3n internacional con el resto de las empresas, aprovechando la presencia en mercados tanto en econom\u00edas maduras como en econom\u00edas emergentes. Adem\u00e1s, el grupo dota a DataPixel de una capacidad de innovaci\u00f3n tambi\u00e9n muy superior, participando en proyectos de I+D a nivel europeo, en cooperaci\u00f3n con la unidad de I+D de Asociaci\u00f3n Innovalia.<\/p>\n<p>La combinaci\u00f3n de estas tres dimensiones supone un salto cualitativo y cuantitativo para la competitividad de DataPixel en un mercado cada vez m\u00e1s global<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>\u00bfQu\u00e9 importancia tiene la metrolog\u00eda en la industria?<\/strong><\/p>\n<p>El despliegue de recursos, m\u00e9todos y procesos de metrolog\u00eda son clave para que la industria alcance los niveles de productividad, calidad y eficiencia requeridos en los mercados actuales. Por decirlo de manera sucinta, s\u00f3lo se puede mejorar aquello que se puede medir, y la metrolog\u00eda es la disciplina que aglutina el conocimiento y la puesta en pr\u00e1ctica de este concepto. La metrolog\u00eda industrial permite obtener informaci\u00f3n y conocimiento preciso sobre los productos y procesos industriales, de manera que podemos controlarlos, mejorarlos y optimizarlos.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>En Metromeet hablaron de la Metrolog\u00eda 4.0. Aclare este concepto.<\/strong><\/p>\n<p>El t\u00e9rmino Metrolog\u00eda 4.0 surge en paralelo con el de Industria 4.0. Cada revoluci\u00f3n industrial ha requerido el desarrollo de herramientas y m\u00e9todos de metrolog\u00eda que la han hecho posible. La Industria 1.0 surgi\u00f3 de la mano del empirismo y la visi\u00f3n cient\u00edfica de la realidad, extendiendo el uso de instrumentos mec\u00e1nicos de metrolog\u00eda que permit\u00edan obtener datos objetivos de los productos y los procesos. La Industria 2.0 supuso la introducci\u00f3n de procesos de fabricaci\u00f3n m\u00e1s avanzados tales como la producci\u00f3n en serie. Con el objetivo de aumentar la productividad se desarrollaron tecnolog\u00edas de medici\u00f3n m\u00e1s sofisticadas permitiendo un mayor rendimiento de los procesos de fabricaci\u00f3n. La Industria 3.0 fue \u201cLa revoluci\u00f3n de la automatizaci\u00f3n\u201d y surgi\u00f3 el concepto de m\u00e1quina de medir CMM, como elemento automatizado que combina sens\u00f3rica, electr\u00f3nica, mec\u00e1nica y l\u00f3gica programable. Por \u00faltimo, la Industria 4.0 ofrece el salto a la digitalizaci\u00f3n y virtualizaci\u00f3n de la industria manufacturera, mediante tecnolog\u00edas como el digitalizado. La combinaci\u00f3n de OptiScan de DataPixel y M3Software lo hacen posible. La integraci\u00f3n de estas tecnolog\u00edas con otros sistemas digitales nos lleva a hablar de la digitalizaci\u00f3n de los procesos.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>\u00bfLa consolidaci\u00f3n y \u00e9xito de Metromeet confirma el inter\u00e9s de la industria por la medici\u00f3n y la metrolog\u00eda?<\/strong><\/p>\n<p>Efectivamente, Metromeet se ha consolidado como conferencia de referencia en Metrolog\u00eda a nivel internacional. Se ha convertido en un punto de encuentro para la industria, los centros nacionales de certificaci\u00f3n metrol\u00f3gica, los centros de investigaci\u00f3n y las universidades.<\/p>\n<p>La metrolog\u00eda industrial actual es multidisciplinar y cada edici\u00f3n Metromeet ha conseguido aglutinar en su programa gran diversidad de campos de innovaci\u00f3n implicados y de alto atractivo para la industria.<\/p>\n<p>La transformaci\u00f3n de la industria no s\u00f3lo requiere de informaci\u00f3n suministrada por la metrolog\u00eda, sino que adem\u00e1s los datos deben ser de calidad y deben aportar valor real desde la perspectiva empresarial. En este sentido, Metromeet aporta no s\u00f3lo conocimiento cient\u00edfico-t\u00e9cnico, sino un intercambio de experiencias industriales de aplicaci\u00f3n pr\u00e1ctica que son sumamente valiosas para los participantes.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Ahora se habla de metrolog\u00eda inteligente, metrolog\u00eda conectada y metrolog\u00eda en la nube. \u00bfHa cambiado la metrolog\u00eda tradicional?<\/strong><\/p>\n<p>Ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s.<\/p>\n<p>Lo que estamos viviendo es el inicio de un cambio radical en la manera de capturar, analizar e integrar la informaci\u00f3n de productos y procesos de fabricaci\u00f3n industrial; la Metrolog\u00eda debe ser capaz de ofrecer soluciones cada vez m\u00e1s integradas en la f\u00e1brica digital.<\/p>\n<p>La transformaci\u00f3n que se est\u00e1 dando gracias a las tecnolog\u00edas de informaci\u00f3n y de comunicaciones en todos los \u00e1mbitos de la actividad humana es tambi\u00e9n crucial para la industria. Los productos y soluciones de Metrolog\u00eda deben tambi\u00e9n ser interconectables, disponer de una determinada capacidad de procesamiento inteligente y contar con capacidad de almacenar y procesar grandes vol\u00famenes de datos.<\/p>\n<p>El elemento clave en esta ecuaci\u00f3n es la estandarizaci\u00f3n de componentes digitales y formatos de intercambio para garantizar que cualquier equipo es capaz de interoperar con otros equipos y sistemas de la empresa. Por ello, Metromeet pone un especial \u00e9nfasis en la difusi\u00f3n y diseminaci\u00f3n de los est\u00e1ndares de la Metrolog\u00eda digital y es un \u00e1rea de claro crecimiento para Metromeet en el futuro.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>\u00bfQu\u00e9 soluciones aportan desde Datapixel?<\/strong><\/p>\n<p>DataPixel es una empresa innovadora l\u00edder en el \u00e1mbito de Metrolog\u00eda digital, digitalizado \u00f3ptico de alta precisi\u00f3n, y en el de integraci\u00f3n de sistemas de metrolog\u00eda en la industria digital.<\/p>\n<p>DataPixel fue el primer fabricante a nivel mundial que introdujo adem\u00e1s de manera efectiva el concepto de metrolog\u00eda h\u00edbrida, ahora en clara expansi\u00f3n, que consiste en combinar en un mismo sistema diferentes tecnolog\u00edas de sensores por contacto y sensores sin-contacto para disponer de la mejor informaci\u00f3n en cada momento y con la m\u00e1xima precisi\u00f3n y productividad.<\/p>\n<p>DataPixel y el Grupo Innovalia son los desarrolladores y comercializadores del software de metrolog\u00eda M3 Software, plataforma abierta que integra las funcionalidades de sensores \u00f3pticos, sensores de contacto, big data, Analytics, IoT y metrolog\u00eda digital en un producto de referencia en la f\u00e1brica digital.<\/p>\n<p>M3 es el primer producto en el mercado que permite conectar sistemas de metrolog\u00eda totalmente integrados en centros de mecanizado y m\u00e1quina herramienta CNC.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>\u00bfQu\u00e9 novedades aportar\u00e1 el sector en los pr\u00f3ximos a\u00f1os?<\/strong><\/p>\n<p>DataPixel va a continuar apostando por la innovaci\u00f3n y desarrollando productos y soluciones para la f\u00e1brica digital, tanto sensores \u00f3pticos de digitalizado de muy alta precisi\u00f3n, como software y sistemas para medici\u00f3n en laboratorio, medici\u00f3n en m\u00e1quinas CNC, medici\u00f3n en l\u00ednea de producci\u00f3n y metrolog\u00eda digital.<\/p>\n<p>DataPixel es el primer fabricante de metrolog\u00eda que integra en un 100% el est\u00e1ndar internacional QIF (Quality Information Framework) para intercambiar datos metrol\u00f3gicos, lo cual va a permitir en un futuro, mayor interoperabilidad con sistemas de control de la fabricaci\u00f3n.<\/p>\n<p>En el \u00e1mbito de la f\u00e1brica digital, DataPixel e Innovalia est\u00e1n introduciendo nuevos sistemas de simulaci\u00f3n, que permiten optimizar los procesos de medici\u00f3n mediante algoritmia matem\u00e1tica antes de ser implantados en la fabricaci\u00f3n real. Todos estos nuevos productos y soluciones forman parte de la plataforma M3. Plataforma adoptada por distintos clientes a nivel internacional y que est\u00e1 suponiendo para una clara ventaja en reducci\u00f3n de costes y mejora de procesos.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Toni Ventura es ingeniero superior de telecomunicaciones, especialidad en electr\u00f3nica. Es fundador y director general de Datapixel en Espa\u00f1a. Adem\u00e1s, es miembro del Comit\u00e9 Ejecutivo de la\u00a0European Machine Vision Association\u00a0(EMVA), as\u00ed como de varios comit\u00e9s internacionales de est\u00e1ndares, incluyendo el comit\u00e9 OSIS (Optical Sensor Interface Standard) de la ia.cmm. \u00bfQu\u00e9 es Datapixel y a qu\u00e9 [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":85986,"featured_media":81727,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"_et_pb_use_builder":"","_et_pb_old_content":"","_et_gb_content_width":"","footnotes":""},"categories":[727],"tags":[],"class_list":["post-632630","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-noticias"],"acf":[],"yoast_head":"<title>\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel<\/title>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"es_ES\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Toni Ventura es ingeniero superior de telecomunicaciones, especialidad en electr\u00f3nica. Es fundador y director general de Datapixel en Espa\u00f1a. Adem\u00e1s, es miembro del Comit\u00e9 Ejecutivo de la\u00a0European Machine Vision Association\u00a0(EMVA), as\u00ed como de varios comit\u00e9s internacionales de est\u00e1ndares, incluyendo el comit\u00e9 OSIS (Optical Sensor Interface Standard) de la ia.cmm. \u00bfQu\u00e9 es Datapixel y a qu\u00e9 [&hellip;]\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"INNOVALIA METROLOGY | INDUSTRIAL METROLOGY SOLUTIONS\" \/>\n<meta property=\"article:published_time\" content=\"2017-08-28T09:57:56+00:00\" \/>\n<meta property=\"article:modified_time\" content=\"2023-03-07T13:44:15+00:00\" \/>\n<meta property=\"og:image\" content=\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:width\" content=\"2762\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:height\" content=\"1401\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:type\" content=\"image\/jpeg\" \/>\n<meta name=\"author\" content=\"innovalia-metrology\" \/>\n<meta name=\"twitter:label1\" content=\"Escrito por\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data1\" content=\"innovalia-metrology\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:label2\" content=\"Tiempo de lectura\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data2\" content=\"8 minutos\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\/\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"Article\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#article\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\"},\"author\":{\"name\":\"innovalia-metrology\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/person\/6223d264bcb89da720d425cadd2ad597\"},\"headline\":\"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel\",\"datePublished\":\"2017-08-28T09:57:56+00:00\",\"dateModified\":\"2023-03-07T13:44:15+00:00\",\"mainEntityOfPage\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\"},\"wordCount\":1531,\"publisher\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#organization\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage\"},\"thumbnailUrl\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg\",\"articleSection\":[\"Noticias\"],\"inLanguage\":\"es\"},{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\",\"url\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\",\"name\":\"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#website\"},\"primaryImageOfPage\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage\"},\"thumbnailUrl\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg\",\"datePublished\":\"2017-08-28T09:57:56+00:00\",\"dateModified\":\"2023-03-07T13:44:15+00:00\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"es\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/\"]}]},{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"es\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage\",\"url\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg\",\"contentUrl\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg\",\"width\":2762,\"height\":1401},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Home\",\"item\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#website\",\"url\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/\",\"name\":\"INNOVALIA METROLOGY\",\"description\":\"METROLOGY SOLUTIONS\",\"publisher\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#organization\"},\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":{\"@type\":\"PropertyValueSpecification\",\"valueRequired\":true,\"valueName\":\"search_term_string\"}}],\"inLanguage\":\"es\"},{\"@type\":\"Organization\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#organization\",\"name\":\"INNOVALIA METROLOGY\",\"url\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/\",\"logo\":{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"es\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/logo\/image\/\",\"url\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/Diseno-sin-titulo-36.png\",\"contentUrl\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/Diseno-sin-titulo-36.png\",\"width\":300,\"height\":250,\"caption\":\"INNOVALIA METROLOGY\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/logo\/image\/\"},\"sameAs\":[\"https:\/\/x.com\/IMetrology_ES\",\"https:\/\/www.linkedin.com\/company\/innovalia-metrology\",\"https:\/\/www.youtube.com\/channel\/UCV7L_atMrcg6DUslHYeDaYQ\"]},{\"@type\":\"Person\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/person\/6223d264bcb89da720d425cadd2ad597\",\"name\":\"innovalia-metrology\",\"image\":{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"es\",\"@id\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/person\/image\/\",\"url\":\"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/c656605e5868c2a34ff4926cf2237086?s=96&d=mm&r=g\",\"contentUrl\":\"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/c656605e5868c2a34ff4926cf2237086?s=96&d=mm&r=g\",\"caption\":\"innovalia-metrology\"},\"url\":\"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/author\/soporte-innovalia-metrology\/\"}]}<\/script>","yoast_head_json":{"title":"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/","og_locale":"es_ES","og_type":"article","og_title":"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel","og_description":"Toni Ventura es ingeniero superior de telecomunicaciones, especialidad en electr\u00f3nica. Es fundador y director general de Datapixel en Espa\u00f1a. Adem\u00e1s, es miembro del Comit\u00e9 Ejecutivo de la\u00a0European Machine Vision Association\u00a0(EMVA), as\u00ed como de varios comit\u00e9s internacionales de est\u00e1ndares, incluyendo el comit\u00e9 OSIS (Optical Sensor Interface Standard) de la ia.cmm. \u00bfQu\u00e9 es Datapixel y a qu\u00e9 [&hellip;]","og_url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/","og_site_name":"INNOVALIA METROLOGY | INDUSTRIAL METROLOGY SOLUTIONS","article_published_time":"2017-08-28T09:57:56+00:00","article_modified_time":"2023-03-07T13:44:15+00:00","og_image":[{"width":2762,"height":1401,"url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg","type":"image\/jpeg"}],"author":"innovalia-metrology","twitter_misc":{"Escrito por":"innovalia-metrology","Tiempo de lectura":"8 minutos"},"schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"Article","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#article","isPartOf":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/"},"author":{"name":"innovalia-metrology","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/person\/6223d264bcb89da720d425cadd2ad597"},"headline":"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel","datePublished":"2017-08-28T09:57:56+00:00","dateModified":"2023-03-07T13:44:15+00:00","mainEntityOfPage":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/"},"wordCount":1531,"publisher":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#organization"},"image":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage"},"thumbnailUrl":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg","articleSection":["Noticias"],"inLanguage":"es"},{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/","url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/","name":"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel","isPartOf":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#website"},"primaryImageOfPage":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage"},"image":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage"},"thumbnailUrl":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg","datePublished":"2017-08-28T09:57:56+00:00","dateModified":"2023-03-07T13:44:15+00:00","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#breadcrumb"},"inLanguage":"es","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/"]}]},{"@type":"ImageObject","inLanguage":"es","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#primaryimage","url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg","contentUrl":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2017\/08\/DSC_0030.jpg","width":2762,"height":1401},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/la-metrologia-ha-cambiado-y-va-a-cambiar-mucho-mas-entrevista-a-toni-ventura-director-de-datapixel\/#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Home","item":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"\u00abLa Metrolog\u00eda ha cambiado y va a cambiar mucho m\u00e1s\u00bb Entrevista a Toni Ventura, director de Datapixel"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#website","url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/","name":"INNOVALIA METROLOGY","description":"METROLOGY SOLUTIONS","publisher":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#organization"},"potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/?s={search_term_string}"},"query-input":{"@type":"PropertyValueSpecification","valueRequired":true,"valueName":"search_term_string"}}],"inLanguage":"es"},{"@type":"Organization","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#organization","name":"INNOVALIA METROLOGY","url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/","logo":{"@type":"ImageObject","inLanguage":"es","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/logo\/image\/","url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/Diseno-sin-titulo-36.png","contentUrl":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/Diseno-sin-titulo-36.png","width":300,"height":250,"caption":"INNOVALIA METROLOGY"},"image":{"@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/logo\/image\/"},"sameAs":["https:\/\/x.com\/IMetrology_ES","https:\/\/www.linkedin.com\/company\/innovalia-metrology","https:\/\/www.youtube.com\/channel\/UCV7L_atMrcg6DUslHYeDaYQ"]},{"@type":"Person","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/person\/6223d264bcb89da720d425cadd2ad597","name":"innovalia-metrology","image":{"@type":"ImageObject","inLanguage":"es","@id":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/#\/schema\/person\/image\/","url":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/c656605e5868c2a34ff4926cf2237086?s=96&d=mm&r=g","contentUrl":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/c656605e5868c2a34ff4926cf2237086?s=96&d=mm&r=g","caption":"innovalia-metrology"},"url":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/author\/soporte-innovalia-metrology\/"}]}},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/632630","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/85986"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=632630"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/632630\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":632634,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/632630\/revisions\/632634"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/81727"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=632630"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=632630"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/innovalia-metrology.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=632630"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}