Enova Paris pretende reunir a los principales fabricantes, distribuidores y subcontratistas de la medición electrónica, la visión óptica y los desarrolladores de proyectos industriales, situándose como un referente en su campo. Con más de 6.000 expertos cualificados y 450 empresas, esta feria es el lugar ideal para descubrir las últimas innovaciones tecnológicas y proyectos de lanzamiento.
Innovalia Metrology presentará sus desarrollos más recientes y novedades en el Stand H11 de la Metrology Village de de Enova Paris, que se celebrará en dicha ciudad del 22 al 24 de septiembre. Durante estos tres días, los visitantes podrán conocer el sistema portátil de escaneado de alta precisión M3 portable, equipado con la plataforma M3 (Multisensor Massive Measurement), que permite optimizar la gestión de los procesos de medición de manera natural y eficiente. Este sistema estará equipado con el sensor óptico Optiscan, cuyo diseño exclusivo permite la integración en cualquier tipo de sistema, tanto para laboratorio como en sistemas de fabricación en línea, así como Tetracheck, el sistema que permite verificar tanto la máquina de medición por coordenadas como la máquina-herramienta en cinco minutos.
