Innovalia Metrology, SUBCONTRATACIÓN見本市で M3計測プラットフォームの可能性を最大限に発揮

Innovalia Metrology, SUBCONTRATACIÓN見本市で M3計測プラットフォームの可能性を最大限に発揮

6月4日から6日にかけて開催されたSUBCONTRATACION見本市、第5番ホールのブース番号L31で、当社はマルチセンサー計測プラットフォームM3を出展。品質管理のための普遍的なプラットフォームで、プロセスのどの段階にあってもプロセスの品質を管理できるマルチシステムです。...
Innovalia Metrologyより、CFAAにて航空業界の課題に取り組むワークショップ開催(5月23日)のお知らせ

Innovalia Metrologyより、CFAAにて航空業界の課題に取り組むワークショップ開催(5月23日)のお知らせ

Innovalia Metrologyより、CFAAにて航空業界の課題に取り組むワークショップ開催(5月23日)のお知らせ 5月23日(木)Parque Científico y Tecnológico(スペインBizkaia県Zamudio市 科学技術パーク内にあるCFAA(Advanced Aeronautical Manufacturing Center)において、航空および産業関連部門の計測上の課題の共有と対処に焦点を当てたワークショップが開催されます。...
Metromeet 2019、3日間に渡り数々の貴重な産業計測関連の研究結果の発表を終え無事閉会 

Metromeet 2019、3日間に渡り数々の貴重な産業計測関連の研究結果の発表を終え無事閉会 

  この度、記念すべき第15回にふさわしく、PTB、ノッティガム大学、アントワープ大学、CFAA、Teknikerなど国際的な主要機関に加え、Innovalia、LMI Technologies、Autodesk、CIN Advanced Systems、Capvidia、Novo Nordisk、Zeiss、Faro、Renishawなどより国際的なプロジェクトを持つ企業の代表幹部が一堂に会しました。 Innovalia Metrology、Renishaw、CIN Advanced...
欠陥ゼロ製造のための計測

欠陥ゼロ製造のための計測

前回のMetromeet産業計測国際会議は、Toni Ventura氏(Datapixel社 CEO)による「欠陥ゼロ」という用語についての特別解説で開会されました。 「欠陥ゼロ」の概念は何年も前から存在してはいますが、この概念の大きな間違いの一つは、無駄を出さす、汚染物質の排出なしに、無事故、無損失、無失業で生産することを我々に強要するものだと思い込んでいる点にあります。Toni Ventura氏はPhil Crosby氏から、想像上の製造ではなく、「ゼロ欠陥」のより現実的な定義を引用しています。...
Innovalia Metrologyは、AIC(Automotive Intelligence Center)にて、スマート計測ソリューションを紹介

Innovalia Metrologyは、AIC(Automotive Intelligence Center)にて、スマート計測ソリューションを紹介

Innovalia Metrologyは、計測と品質管理の研修セミナーへの取り組みを探求し続けています。このため、AICに置く当社測定研究室を開放し、ヨーロッパのスマート計測の推進力となっている、将来有望な学生に計測学における最も革新的なソリューションを紹介しました。...
Innovalia Metrology:バスク大学(UPV)工学部学生に測定研究室を開放

Innovalia Metrology:バスク大学(UPV)工学部学生に測定研究室を開放

去る12月13日(木)、Innovalia Metrology は、バスク大学工学部計測学専攻の学生を対象に測定研究室を開放しました。バスク大学計測学教授Naiara Ortega氏 及びAIC(Automotive Intelligence Center)にあるInnovalia Metrologyチームによる指導で、実際の自動車業界で適用されている測定技術を学びました。...